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當(dāng)前位置:首頁(yè)產(chǎn)品中心顯微測(cè)量?jī)x白光干涉儀SuperViewW10.1nm形貌重復(fù)性白光干涉儀
0.1nm形貌重復(fù)性白光干涉儀

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

中圖儀器SuperView W系列0.1nm形貌重復(fù)性白光干涉儀一鍵完成單/多區(qū)域自動(dòng)測(cè)量、批量分析,編程測(cè)量功能可預(yù)設(shè)流程實(shí)現(xiàn)一鍵操作,單個(gè)精細(xì)器件測(cè)量用時(shí)短,大幅提升檢測(cè) throughput。

產(chǎn)品型號(hào):SuperViewW1
更新時(shí)間:2025-11-07
廠(chǎng)商性質(zhì):生產(chǎn)廠(chǎng)家
訪(fǎng)問(wèn)量:236
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中圖儀器SuperView W系列0.1nm形貌重復(fù)性白光干涉儀:高精度3D表面測(cè)量解決方案,賦能工業(yè)檢測(cè)升級(jí)。

0.1nm形貌重復(fù)性白光干涉儀


還在為復(fù)雜表面測(cè)量難題發(fā)愁?超光滑/粗糙材質(zhì)、納米/微米級(jí)精度、批量檢測(cè)效率低等問(wèn)題,中圖儀器SuperView W光學(xué)輪廓儀一站式解決!兼具多場(chǎng)景適配性、高精度測(cè)量、智能化操作三大核心優(yōu)勢(shì),讓工業(yè)檢測(cè)更高效、更精準(zhǔn)、更省心,成為B端企業(yè)提升質(zhì)檢水平的核心利器。


一、核心亮點(diǎn)

1. 全場(chǎng)景覆蓋:?jiǎn)我粧呙枘J竭m配超光滑到粗糙、鏡面到全透明/黑色材質(zhì),從納米到微米級(jí)工件的粗糙度、平整度、微觀輪廓等參數(shù)均可精準(zhǔn)測(cè)量,無(wú)需更換設(shè)備即可滿(mǎn)足多類(lèi)產(chǎn)品檢測(cè)需求。

2. 高精度+大范圍雙突破:復(fù)合型EPSI重建算法解決傳統(tǒng)技術(shù)瓶頸,自動(dòng)拼接功能支持方形、圓形等多種模式,數(shù)千張圖像無(wú)縫拼接,超光滑凹面弧形掃描也能實(shí)現(xiàn)無(wú)重疊縫隙重建。

3. 高效自動(dòng)化降本增效:一鍵完成單/多區(qū)域自動(dòng)測(cè)量、批量分析,編程測(cè)量功能可預(yù)設(shè)流程實(shí)現(xiàn)一鍵操作,單個(gè)精細(xì)器件測(cè)量用時(shí)短,大幅提升檢測(cè) throughput。


二、核心功能

1. 測(cè)量能力:覆蓋全類(lèi)型樣件表面,無(wú)需切換測(cè)量模式,適配從精密器件到批量工件的多樣化檢測(cè)場(chǎng)景。

2. 自動(dòng)化體驗(yàn):操縱桿便捷操控所有軸位,支持陣列式多區(qū)域測(cè)量、Mark點(diǎn)自動(dòng)定位校正,批量樣品切換測(cè)量點(diǎn)位無(wú)需重復(fù)調(diào)試。

3. 數(shù)據(jù)處理與導(dǎo)出:內(nèi)置去噪、濾波等四大數(shù)據(jù)處理模塊,粗糙度、幾何輪廓等五大分析功能,支持Word/Excel/PDF格式報(bào)表導(dǎo)出,滿(mǎn)足質(zhì)檢存檔與數(shù)據(jù)分析需求。

4. 穩(wěn)定與安全保障:氣浮隔振底座隔絕振動(dòng)干擾,0.1nm分辨率環(huán)境噪聲評(píng)價(jià)功能確保數(shù)據(jù)精準(zhǔn);雙重鏡頭防撞保護(hù)、光源自動(dòng)熄燈設(shè)計(jì),降低設(shè)備損耗與操作風(fēng)險(xiǎn)。


三、自研軟件平臺(tái):適配多機(jī)型,拓展性更強(qiáng)

Xtremevision Pro第二代3D測(cè)量軟件平臺(tái),集成圖像掃描、3D分析、影像測(cè)量、自動(dòng)化測(cè)量四大模塊,適配中圖W/VT/WT系列所有3D儀器機(jī)型。支持白光干涉與共聚焦顯微鏡自動(dòng)切換,可直接測(cè)量微觀平面輪廓的距離、角度、半徑等參數(shù),搭配靈活自動(dòng)拼接功能,自定義測(cè)量區(qū)域無(wú)限制。

0.1nm形貌重復(fù)性白光干涉儀

四、應(yīng)用場(chǎng)景

廣泛應(yīng)用于精密制造、電子半導(dǎo)體、汽車(chē)零部件、新材料、醫(yī)療器械等領(lǐng)域,可對(duì)產(chǎn)品表面粗糙度、磨損/腐蝕情況、臺(tái)階高度、加工缺陷、孔隙間隙等形貌特征進(jìn)行精準(zhǔn)測(cè)量分析,為產(chǎn)品質(zhì)量控制、工藝優(yōu)化提供可靠數(shù)據(jù)支撐。

0.1nm形貌重復(fù)性白光干涉儀

五、合作邀約

SuperView W系列0.1nm形貌重復(fù)性白光干涉儀助力企業(yè)提升質(zhì)檢效率、降低成本、保障產(chǎn)品品質(zhì)?,F(xiàn)面向全國(guó)制造企業(yè)、檢測(cè)機(jī)構(gòu)、科研單位開(kāi)放合作,提供定制化測(cè)量解決方案與專(zhuān)業(yè)技術(shù)支持。

0.1nm形貌重復(fù)性白光干涉儀

如需獲取產(chǎn)品演示視頻、行業(yè)案例手冊(cè)或精準(zhǔn)報(bào)價(jià),歡迎隨時(shí)聯(lián)系中圖儀器,我們將為你提供一對(duì)一專(zhuān)業(yè)咨詢(xún)服務(wù)!

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